马腾 高级工程师

影响力星级
  • 0

    评审数量

  • 42

    发文量

  • H指数

单位:工业和信息化部电子第五研究所

学科领域:微电子学

研究兴趣:半导体器件和集成电路辐射效应和失效机理研究

社会任职
1. 期刊《质量与可靠性》、《微处理机》编委; 2. 贵州省集成电路标准委员会委员; 3. ICRMS国际会议组织委员会委员,SRSE国际会议技术委员会委员; 4. APL、IEEE EDL、IEEE TED、IEEE TNS、NIMA、MR等多个期刊审稿人; 5. 中山大学、山东大学、西安电子科技大学、西北大学等多个学校的硕士/博士研究生校外导师。

个人简介

马腾,博士,工信部电子五所电子元器件可靠性技术全国重点实验室高级工程师,长期从事半导体器件和集成电路辐射效应和失效机理研究。作为项目负责人先后主持国家自然科学基金、国家重点研发计划子课题、国家国防科工局稳定支持项目、中央军科委实验室基金、广东省自然科学基金等国家级/省部级课题8项,联合承担国家重点研发计划、国家自然科学基金、广东省汽车芯片专项等11项;获得国家国防科技进步二等奖1项;获得半导体器件辐射效应领域国际顶级会议RADECS2020最佳论文(首位获此奖项的中国人);以第一和通信作者身份在APL、IEEE EDL、IEEE TED等国际权威期刊上发表SCI/EI论文40余篇,发明专利10余项,参与制定国家标准1项、行业标准2项、团体标准2项;兼任贵州省集成电路学会标委会委员,《质量与可靠性》期刊编委,中山大学、山东大学、西安电子科技大学硕士博士生校外导师,以及APL、IEEE TED、NIMA、MR等多个学术期刊审稿人。

学术贡献

本人长期从事半导体器件和集成电路辐射效应和失效机理研究。以第一和通信作者身份在APL、IEEE EDL、IEEE TED等国际权威期刊上发表SCI/EI论文40余篇;国际上首次报道了重离子、高能质子和大气中子辐照导致氧化镓功率器件发生单粒子烧毁现象和机理,在第四代半导体功率器件辐射效应研究方面处于国际领先水平,作为项目组核心成员负责建成了国内唯一、国际领先的散裂中子源大气中子辐照谱仪。

工作经历

半导体器件和集成电路辐射效应和失效机理研究

教育经历

2008.08-2012.07 西安电子科技大学 集成电路设计 学士 2015.09-2018.07 中国科学院大学 微电子学与固体电子学 硕士 2018.10-2021.09 意大利帕多瓦大学 信息科学与技术专业 博士