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飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在矿物包裹体研究中的应用
Application of time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) in the study of mineral inclusions
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1. 中国地质大学 地球科学与资源学院, 地质过程与矿产资源国家重点实验室, 北京 100083;2. 清华大学 化学系, 有机光电子与分子工程教育部重点实验室, 北京 100084
王梦琴,蔡克大,李展平*. 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在矿物包裹体研究中的应用 [J]. 岩石矿物学杂志. 2023; 42; (3). 451 - 464.
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